노트: AEC-Q200의 환경 테스트 조건은 주로 MIL-STD-202 및 JEDEC22A-104 사양을 기반으로합니다.. 다른 부품의 테스트 온도는 동일 할뿐만 아니라, 뿐만 아니라 전원 공급 장치 (전압, 흐름, 및로드) 요구 사항. 다를 것입니다, 고온 저장은 바이어스 및 부하가 적용되지 않습니다, 그러나 고온 노동 생활에서는, 온도 순환 및 온도 영향, 시험 목적 및 방법이 동일하지 않음, 온도 순환에서, 고온 변화는 온도 변화율을 제어해야합니다., 온도 충격을 사용하지 않습니다, 높은 습도는 일반적으로 고온 및 습도 테스트로 알려져 있습니다., 습도 저항은 습식 동결 테스트입니다..
테스트 조건주의 사항: 1000 시간 테스트 절차는 고온 보관을 위해 250 시간 및 500 시간 간격으로 수행되어야합니다. (MIL-STD-202-108): [적용 가능한 장비: THS] 필름 커패시터, 네트워크 저역 통과 필터, 네트워크 저항, 열에 민감한 저항기, 가변 커패시터, 가변 저항기, 세라믹 공진기, EMI 간섭 억 제기, EMI 간섭 필터: 85° C / 1000h 인덕터, 변신 로봇, 저항기: 125° C / 1000h 배리스터: 150° C / 1000h 탄탈륨 커패시터, 세라믹 커패시터 , 알루미늄 전해 커패시터: 최대 정격 Temperature / 1000h
고온 서비스 수명 (MIL-STD-202-108): [적용 가능한 장치: THS] 네트워크 저역 통과 필터, 네트워크 저항: 85° C / 1000h EMI 간섭 억 제기, EMI 간섭 필터: 85° C / 1000h / 적용 정격 IL 탄탈륨 커패시터, 세라믹 커패시터: 최대 정격 온도 / 1000시간 / (2/3) 하중 / 정격 전압 알루미늄 전해 커패시터, 인덕터, 변압기: 105 ° C / 1000h 필름 커패시턴스: 1000시간 / (85 ° C / 125% 정격 전압, 105 ° C & 125 ° C / 100% 정격 전압) 재설정 가능한 퓨즈: 125 ° C / 1000h 저항, 서미스터, 가변 용량: 125 ° C / 1000시간 / 정격 전압 가변 저항: 125 ° C / 1000시간 / 정격 출력 가변 저항: 125 ° C / 1000h / 정격 전압 85 % + ma 전류 세라믹 공진기: 85° C / 1000h / 정격 VDD + 1MΩ, 병렬 인버터, 2각 크리스털 레그와 접지 쿼츠 발진기 사이의 X 크리스털 CL 커패시턴스: 125° C / 1000h / 정격 VDD + 1MΩ, 병렬 인버터, 2각 크리스탈 핀과 접지 사이의 X 크리스탈 CL 커패시터
온도 순환 (JEDEC22A-104): [applicable devices: TSR, ESS] Film capacitance, variable capacitance, variable resistance, ceramic resonator, EMI interference suppressor, EMI interference filter: -55°C (30min) ← → 85 ° C(30min)/RAMP(15°C/min)/1000cycles 탄탈 콘덴서, Ceramic Capacitor, 저항기, Thermistor: -55°C(30min)←→125°C(30min)/RAMP(15°C/min)/1000사이클 알루미늄 전해 커패시터:-40°C(30min)← → 105 ° C(30min)/RAMP(15°C/min)/1000사이클 인덕터, 변신 로봇, 가감 저항기, 석영 발진기, Resettable Fuse:-40°C(30min)←→125°C (30min)/RAMP
(15°C/min)/1000사이클 네트워크 저역 통과 필터, Network Resistance: 비탈길�C(° C / 분��→1주기30min)/RAMP(15°C/min)/1000cycles
온도 충격 (MIL-STD-202-107): [적용 가능° C 장비: TC, TSK]← �분125 ° C�� 퓨즈: -40°C(15min)←→125°C(15min)/300높은 습도주기 (밀 -STD-202- 103): [적용 장비: THS]