AEC-Q200コンデンサの測定条件
注記: AEC-Q200 の環境試験条件は主に MIL-STD-202 および JEDEC22A-104 仕様に基づいています。. 異なる部品の試験温度は同じであるだけではありません, 電源も (電圧, 現在, そしてロードします) 要件. それは違うでしょう, 高温保管はバイアスや負荷をかけないでください, しかし、高温での作動寿命のニーズ, 温度サイクルと温度の影響, テストの目的と方法は同じではありません, 温度サイクルの中で, 高温変化では温度変化率を制御する必要がある, 温度ショックは使用しません, 高湿度は一般に高温高湿試験として知られています, 耐湿性は湿式凍結試験です.
試験条件の注意事項: 高温保管の場合は、1000 時間のテスト手順を 250 時間と 500 時間の間隔で実行する必要があります。 (MIL-STD-202-108): [適用機器: THS] フィルムコンデンサ, ネットワークローパスフィルター, ネットワーク抵抗, 感熱抵抗器, 可変コンデンサ, 可変抵抗器, セラミック発振子, EMI干渉サプレッサー, EMI干渉フィルター: 85℃/1000h インダクタ, トランス, 抵抗器: 125℃/1000h バリスタ: 150℃/1000h タンタルコンデンサ, セラミックコンデンサ , アルミニウム電解コンデンサ: 最高定格温度/1000h
高温寿命 (MIL-STD-202-108): [適用デバイス: THS] ネットワークローパスフィルター, ネットワーク抵抗: 85°C/1000h EMI干渉サプレッサー, EMI干渉フィルター: 85°C/1000h/適用定格ILタンタルコンデンサ, セラミックコンデンサ: 最高定格温度 / 1000h / (2/3) 負荷 / 定格電圧 アルミ電解コンデンサ, インダクタ, 変圧器: 105 ℃ / 1000h フィルム静電容量: 1000h / (85 ℃ / 125% 定格電圧, 105 ℃ & 125 ℃ / 100% 定格電圧) リセッタブルヒューズ: 125 ℃ / 1000h 抵抗, サーミスター, 可変容量: 125 ℃ / 1000h / 定格電圧 可変抵抗: 125 ℃ / 1000h / 定格電力加減抵抗器: 125 ℃ / 1000h/定格電圧85%+ma電流セラミック発振子: 85℃/1000h/定格VDD+1MΩ, 並列インバータ, 2各クリスタルレッグとグランド間の X クリスタル CL 静電容量 水晶発振器: 125℃/1000時間/定格VDD+1MΩ, 並列インバータ, 2各クリスタルピンとグランド間の X クリスタル CL コンデンサ
温度サイクル (JEDEC22A-104): [適用可能なデバイス: TSR, ESS] Film capacitance, 可変容量, variable resistance, ceramic resonator, EMI interference suppressor, EMI interference filter: -55°C (30min) ←→85℃(30min)/RAMP(15°C/min)/1000cycles Tantalum Capacitor, Ceramic Capacitor, 抵抗器, Thermistor: -55°C(30min)←→125°C(30min)/RAMP(15°C/min)/1000アルミ電解コンデンサ:-40°C(30min)←→105℃(30min)/RAMP(15°C/min)/1000サイクル インダクタ, トランス, 加減抵抗器, 水晶発振器, Resettable Fuse:-40°C(30min)←→125°C (30min)/RAMP
(15°C/min)/1000サイクルネットワークローパスフィルタ, Network Resistancランプ55�℃/分n)←�サイクル�C(30min)/RAMP(15°C/min)/1000cycles
温度衝撃 (MIL-STD-202-107): [適用機器℃C, TSK] 自己修�←�分25℃��: -40°C(15min)←→125°C(15min)/300高湿度のサイクル (MIL-STD-202- 103): [応用機器: THS]
